如果临床种植手术以及根管治疗过程操作失误，可能导致神经症状，如疼痛、感觉异常或麻木，其中下齿槽神经（inferior alveolar nerve ，IAN）是特别危险的区域。IAN 走行于下颌管中（mandibular canal ，MC），MC 相对于根尖的位置、直径、各方向的骨厚度等，各患者之间都是不同的。种植手术和根管治疗导致 IAN 损伤有以下三种机制：机械力、化学因素、以及高温。IAN 的机械损伤可能见于注射溶液、钻孔、种植体植于神经上或接近神经、扩展过度或仪器使用过度、或者医源性错误，比如神经离断。冲洗剂或根管内药物、或暂封药可能会导致 IAN 的化学损伤。高温伤害包括种植钻孔的高温、使用超声、或在预备过度的根管中使用热牙胶。
在手术修复损伤区域之前，要求外科医生必须对该区域附近的解剖标志和结构很熟悉，以避免加重 IAN 损伤。为此，2016 年 6 月，美国海军牙医团队的 Tyler Koivisto 等，发表于 Journal of endodontics 的研究，使用锥束 CT（cone- beam computed tomography ，CBCT）测量，研究 MC 位置与下颌后牙之间的关系，MC 颊侧、舌侧骨量，MC 直径，以及神经孔附近的下颌神经管前环（anterior loop，AL）（如果存在）的位置和大小。
研究的排除标准为：1. 缺失 1 颗以上下颌后牙（除了第三磨牙）； 2. 矢状面 MC 不可见； 3. 在下颌后部有严重的骨缺损； 4. 有影响诊断的伪影。最终有 106 名符合标准的患者 CBCT 被纳入实验，共 636 颗牙齿可用来评估。三名经过放射摄影的标准化训练的检查者，以特定方向从下颌孔和神经孔描记 MC。测量从根尖水平的截面进行，来评估 MC 位置、骨厚度、以及 MC 直径和 AL 的位置和大小。
MC 位于牙齿（颊侧、下方、舌侧）各位置比例分别是：第二磨牙（57% 颊侧，40% 下方，3% 舌侧），第一磨牙（18% 颊侧，55% 下方，27% 舌侧），第二前磨牙（33% 颊侧，56% 下方，11% 舌侧）。MC 颊侧骨厚度在第二磨牙近中根是最厚的（5.4 mm），在第二前磨牙是最薄的（2.6 mm）。MC 舌侧骨在第二前磨牙是最厚的（3.8 mm），在第一磨牙远中根是最薄的（1.7 mm）。MC 从第二磨牙到第二前磨牙段的平均直径，在左侧是 3.03 mm，在右侧是 2.91 mm。10.4% 的患者存在 AL，平均骨嵴下深度是 13.43 mm。AL 在左侧比右侧更常见，36% 会双侧都有。AL 右侧距离比左侧小（2.5 mm 对 3.5 mm）。AL 的最高点经常是在神经孔（87%），但偶尔 AL 会在神经孔上方（13%）。
当计划进行下颌后部根尖附近手术时，临床医生应该考虑 CBCT 扫描以避免加重 IAN 神经损伤。如果不能进行 CBCT 扫描，相关的知识储备能够帮助临床医生最大程度避免手术治疗期间的潜在问题。
